產品展示SBJDCS系列高頻介電常數及介質損耗測試儀選型 功能升級
發(fā)布者：揚州市拓騰電氣有限公司 發(fā)布時間：2016/11/5SBJDCS-A/B/B+/C介電常數及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。
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型號 |
SBJDCS-A |
SBJDCS-B |
SBJDCS-B+ |
SBJDCS-C |
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工作頻率范圍 |
10kHz～60MHz |
10KHz-70MHz |
10KHZ-110MHZ |
50kHz～160MHz |
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顯示 |
五位數顯 DDS數字合成 |
LCD顯示 6位有效數 DDS數字合成 |
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Q值測量范圍 |
1～1000三位數顯，±1Q分辨率 |
1～1000四位數顯，±0.1Q分辨率 |
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可調電容范圍 |
40～500pF ΔC±3pF |
28～490pF 0.1pF分辨率 |
14～230pF 0.1pF分辨率 |
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電容測量誤差 |
±1%±1pF |
±0.5%±0.5pF |
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測試儀殘余電感值 |
約20nH |
約20nH |
約8nH |
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